教师介绍

刘庆纲

来源:更新时间:2018-09-20

姓 名 刘庆纲
职 称 教授
所在系别 精密仪器工程
联系电话 13332002508
电子邮件 lqg@tju.edu.cn
办公地址 天津大学(老校区)五教216室
导师类型 仪器科学与技术——博导、硕导
通讯地址 天津市南开区卫津路92号 天津大学精密仪器与光电子工程学院
邮政编码 300072

Education and Work Experiences(学习及工作经历)
1983/9 1987/7 Bachelor Degree Tianjin University
天津大学
Precision Instruments
精密仪器
1987/9 1990/7 Master Degree Tianjin University
天津大学
Measuring and Testing Technologies and Instruments
测试计量技术及仪器
1990/9 1992/9 Doctoral Degree Tianjin University
天津大学
Measuring and Testing Technologies and Instruments
测试计量技术及仪器
1992/10 1995/3 Doctoral Degree Tohoku University, Japan
日本东北大学
Precision Instruments
精密仪器(联合培养)
1995/3 1996/3 Doctoral Degree Tianjin University
天津大学
Measuring and Testing Technologies and Instruments
测试计量技术及仪器
1996/4 1997/3 天津大学 Postdoctor 博士后
1997/4 1997/7 日本东北大学 Guest Researcher 客员研究员
1997/7 1999/4 日本(原)通产省工业技术院计量研究所 Guest Researcher客员研究员
1999/5 2008/6 天津大学 Associate Professor 副教授 硕士生导师
2008/6 now 天津大学 Professor Ph.D. Supervisor 教授 博士生导师

学术经历

  刘庆纲,男,1964生人,工学博士,教授,博士生导师,1999年结束海外留学和工作回到天津大学精仪学院精仪系任教。在海外学习和工作阶段,主要从事扫描探针显微镜的开发研制、纳米级自校正系统的研究以及固体密度标准(阿佛加德罗常数相关)的测试系统研究等工作,回国以后主要从事测试计量技术及仪器、光学及光电测试技术、微纳尺度微结构的光学检测方法、光机电系统及智能仪器设计与研究等方面研究,以及本科生和研究生的教学工作。

  作为负责人,近年来主持国家自然基金一项,主持国家自然基金重大科研仪器研制项目子课题一项,完成教育部博士点基金一项,完成天津市自然基金重点项目两项及面上项目一项,教育部天津大学南开大学合作项目一项,教育部光电信息技术科学重点实验室开放课题一项,横向课题多项;作为主要参与人,完成国家“863”项目2项,国家自然科学基金一项、国家自然科学基金专项基金一项、国家自然科学基金重大研究计划培育项目一项,天津市项目一项,横向课题多项;获省部级科技进步一等奖一项、获省部级教学成果一等奖一项;在国内外期刊发表学术论文90余篇,SCI及EI收录40余篇;申请多项专利,授权专利9项;曾被评为天津大学毕业设计优秀指导教师、天津大学青年教师讲课大赛二等奖。

Research Interesting 主要研究方向
  1. 1)光学及光电测试技术
  2. 2)微纳结构中的光电信息检测技术
  3. 3)光机电系统设计及仪器智能化

  2018年承担的主要课题包括:国家自然科学基金项目“基于表面等离子体效应的薄膜材料特征参数测试理论与原位表征评价方法研究”、天津市自然基金重点项目“薄膜材料表面特性的近场增强检测新方法研究”、 国家自然基金重大科研仪器研制项目子课题一项(2019年执行)以及横向课题若干项。

Academic Memberships & Affiliations 学术兼职
  1. 国际光学工程学会SPIE会员
  2. 中国微米纳米技术学会高级会员
  3. 中国力学学会会员
  4. 中国光学学会会员及光电专业委员会委员
  5. 中国仪器仪表学会会员
  6. 中国标准化委员会全国专业标准化技术委员会委员


Authorized Patents 授权专利情况
No.
序号
Patents Name
授权专利名称
Patents Category
专利类别
Patents No.
授权专利号
Authorized Country
授权国别
Rank
排名
Authorization Date
授权时间
1 光学非接触式小角度测量装置 发明 2004100940526 中国 1 2006-1-25
2 一种高精度二维小角度测量装置 发明 2004100940507 中国 1 2006-05-24
3 一种高精度二维小角度测量方法 发明 2004100940511 中国 1 2006-05-24
4 基于角度测量的原子力显微镜测量方法 发明 2004100940530 中国 1 2007-02-14
5 基于角度测量的原子力显微镜测量装置 发明 2004100940545 中国 1 2007-02-14
6 一种基于单体传感器的高精度电子天平测量系统 实用新型 2014206845844 中国 1 2015-01-16
7 一种用于称量的单体传感器机械结构 实用新型 2014206845825 中国 1 2015-01-16
8 自动变光焊接滤光镜漫射光约化亮度系数测量方法 发明 2013106384941 中国 1 2016-08-17
9 自动变光焊接滤光镜漫射光约化亮度系数测量装置 发明 2013106367058 中国 1 2016-08-17
10 一种适于多等级精密天平的设计方法 发明 201510602531.2 中国 1 2017-12-08
11 一种自动变光焊接滤光镜漫射光约化亮度系数测量方法 发明 201510615310.9 中国 1 2017-12-08
此外,尚有排名2的发明专利2项、发明专利处于“实质审查的生效”状态10项。

Publications-Papers 主要发表文章
  1. 1. Enhancement of spin components’shifts of reflected beam via long range surface plasmon resonance,Optics Communications,Volume 426, 1 November 2018, Pages 16–22,SCI三区待检索,2018
  2. 2. Determination of thin metal film’s thickness and optical constants based on SPR phase detection by simulated annealing particle swarm optimization,Optics Communications,已录用待发表,SCI三区待检索
  3. 3. Enhanced in-plane and out-of-plane photonic spin Hall effect via surface plasmon resonance,Physics of Plasmas, Vol.25, No.2, 022121(1-6),2018,SCI三区
  4. 4. Impact of the incident light polarization on photonic spin splitting around the Brewster angle,Proceedings of SPIE,v 10622,1062208(6pp),2018 EI
  5. 5. Phase detection model and method for SPR effect modulated by metallic thickness,Proceedings of SPIE, Volume 10329, Optical Measurement Systems for Industrial Inspection X; 103293Q (2017) EI
  6. 6. Determination of the Bimetallic Layers’Film Thicknesses by Phase Detection of SPR Prism Coupler, Plasmonics, Vol.12, No.4, 1199-1204 (2017),SCI二区
  7. 7. Simulation of Nano Metal Film Thickness Measurement Based on surface Plasmon Resonance Effect, Nanotechnology and Precision Engineering,已录用待发表2017
  8. 8. A characterization method for the metal thin film, Proceedings of the SPIE,9927-60, EI 2016
  9. 9. 基于柔性铰链的杠杆-平衡机构的运动特性分析与参数设计,传感技术学报,Vol.29, No.3 pp313-319,2016 CSCD核心
  10. 10. Moire´ fringe method for roll angular displacement measurement, Proceedings of the SPIE 9677 96771R (5 pp.) EI 2015
  11. 11. 基于有限元的柔性铰链微位移机构研究, 机械科学与技术 Vol.34,No.7,985-988 2015 CSCD核心
  12. 12. SPR phase detection for measuring the thickness of thin metal films, OPTICS EXPRESS,V22,No.7,pp7574-7580,2014 SCI二区
  13. 13. 自动变光焊接滤光镜响应时间快速测量方法, 电子测量与仪器学报,V28,No.3,320-325 2014 CSCD核心
  14. 14. 型钢端面尺寸的精密视觉检测方法, 光电工程 Vol.40, No.11, pp1-7 2013 CSCD核心
  15. 15. Research of SPR Phase Detection for Measuring Ultra Thin Metal Film, Key Engineering Materials, 562-565, 896-901 2013 EI
  16. 16. Phase detection for nanometer scale metal film's thickness based on SPR effect, Advanced Materials Research, Vol.320, 2011, 377-381 2011 EI
  17. 17. UTC-PD和RTD单片集成的器件模拟研究, 固体电子学研究与进展,Vol.30,No.3,353-357 2010 CSCD核心
  18. 18. Fabrication of PCSS based on AFM and photolithograph, 2010 Symposium on Photonics and Optoelectronic, SOPO 2010 - Proceedings,2010,5504010 EI
  19. 19. Reflective Interference in Passive RFID Localization and the Improvement Method, The 5th International Conference on Wireless Communications, Networking and Mobile Computing (WiCOM 2009) EI
  20. 20. Fabrication and Characterization of micro Opto-electronic Sensor, Int. Conf. Meas. Technol. Mechatronics Autom., ICMTMA, Vol.1 20-23 2009 EI
  21. 21. 基于位置和压力的笔迹识别方法, 光电子激光 Vol.20, No.4, pp499-503, 2009 EI
  22. 22. Optimum design of 2D micro-angle sensor, Proceedings of SPIE, Vol.7130, 713009, 2008 EI
  23. 23. Analysis of Photoconductive Sampling method for Micro PCSS, 2008 International Workshop on Junction Technology, IWJT-2008 IWJT'2008: 172-175 EI
  24. 24. 光电导开关中的隧穿现象, 传感技术学报, Vol.21, No.2, Feb.2008, pp.269-272 CSCD核心
  25. 25. Study on fabrication and characterization of nanometer scale MIM tunneling junction, Proceedings of the International Conference on Integration and Commercialization of Micro and Nanosystems 2007, vA, p373-377, 2007 EI
  26. 26. The effect of the TiOx line width on the tunneling phenomenon, Proceedings of the 2nd IEEE International Conference on Nano/Micro Engineered and Molecular Systems, IEEE NEMS 2007, p 467-471 EI
  27. 27. Two dimensions angular sensor for micro/nano measurement, Proceedings of the 2nd IEEE International Conference on Nano/Micro Engineered and Molecular Systems, IEEE NEMS 2007, p 274-277 EI
  28. 28. A phenomenon of LT-GaAs photoconductive switch triggered by 800 nm femtosecond laser, IET Conference Publications, n 524, International Technology and Innovation Conference 2006. ITIC 2006 , p 494-499 EI
  29. 29. Characterization of nanometer scale titanium film oxidation lines and MIM tunneling junction structures, IET Conference Publications, n 524, Interna tional Technology and Innovation Conference 2006, ITIC 2006, p 464-469 EI
  30. 30. Comparison of the effect of TiOx lines number in the tunneling junctions to the tunneling phenomenon, Proceedings of SPIE, v6358 I, 2006, p 63580B EI
  31. 31. 隧道结TiOx 线宽度对隧穿现象的影响, 半导体学报v 27, n 8, August, 2006, p 1453-1457 EI
  32. 32. 纳米隧道结的制备和特性研究, 物理学报,Vol.55 No1, pp80-83, 2006 SCI
  33. 33. AFM 诱导氧化脉冲宽度与Si纳米加工,传感技术学报,2006年10月第19卷第5期:1441-1443 2006 CSCD核心
  34. 34. 脉冲时间对AFM阳极诱导氧化加工的影响,纳米技术与精密工程,Vol.4, No.1, pp79-82, 2006 CSCD核心
  35. 35. AFM加工的Ti纳米氧化钛线的直线度分析,光电子.激光, v16, n12, December, 2005, p 1417-1420 EI
  36. 36. Micro Angle Measurement for a Scanning Stage, Key Engineering Materials,vol.295-296, 2005, pp119-124 SCI
  37. 37. Method to detect the property of complex oxide structure formed by AFM anodic oxidation completely, Ultramicroscopy, Vol. 105 (2005), 111-114 SCI二区
  38. 38. Current detection during tip-induced oxidation of titanium by atomic force microscope, Proceedings of SPIE, v5635, 2005, pp305-312 EI
  39. 39. Angular sensor for micro angle measurement of micro target, Proceedings of ISTM’2005, vol.4, pp3668-3671 EI
  40. 40. 大气湿度对AFM针尖氧化加工金属Ti膜的影响, 压电与声光, Vol.26, No.3, 2004, pp234-236 EI
  41. 41. 纳米标准物及长时稳定性, 压电与声光,Vol.26, No.2, Apr. 2004, pp161-163 CSCD核心
  42. 42. Optical parameters’ Design and analysis of angle sensor, Proceedings of SPIE, v5174, 2003, pp202-211 EI
  43. 43. Analysis of AFM tip-induced oxidation of thin metal film in the air, Proc SPIE Int Soc Opt Eng 5220,108-116 EI
  44. 44. 用于纳米光电器件的Ti纳米氧化线的AFM加工, 光电子激光,Vol.14, No.12, Dec. 2003, pp1296-1298 CSCD核心
  45. 45. 大气状态下AFM针尖诱导氧化加工Ti膜的机理分析, 半导体学报,Vol.24, No.12, 2003.12, pp1303-130 EI
  46. 46. 误差因素对微角度传感器性能的影响, 光电子激光,Vol.24, No.4, 2003.4,pp354-358 CSCD核心
  47. 47. 材料表面硬度及形状的AFM分析方法, 天津大学学报,Vol.36, No.2, 2003, pp174-177 EI
  48. 48. Atom force microscopic characterization of the interaction forces between bovine serum albumin and cross-linked alkylated chitosan membranes in media of different pH, Polymer International, vol51, No. 12, 2002, p1459-1463 SCI
  49. 49. Methods of improving photoconductive sampling, Proceedings of the Second International Symposium on Instrumentation Science and Technology, v 2, 2002, p 2/509-2/513 EI
  50. 50. Design and analysis of angle sensor optical parameters, Proceedings of the Second International Symposium on Instrumentation Science and Technology, v 3, 2002, p 3/318-3/332 EI
  51. 51. Formation of a DNA/N-dodecylated chitosan complex and salt-induced gene delivery, Journal of Applied Polymer Science, Volume 82, Issue 14, 2001. Pages: 3391-3395 SCI
  52. 52. 角度传感器及其在纳米测试技术中的应用, 中国计量测试学会第三届海峡两岸计量科技学术研究计会论文集,77~80,2000 EI

Publications-Books and Teaching Materials 论著及教材情况
  1. 1.主编《测控仪器设计》(第三版)机械工业出版社,十一五国家级规划教材; ISBN No. 978-7-111-48144-7; 1, 2015 (主编及第三章)
  2. 2.参编《微纳检测技术》天津大学出版社,十一五国家级规划教材; ISBN No.978-7-561-82863-2; 10, 2009 (第四章、第五章)

Teaching 主讲课程
  1. 1)测控系统与仪器设计(本科专业核心课)
  2. 2)微纳测试技术(研究生选修课)

Graduates 毕业生去向

去向包括出国深造、大学教师、国企或公司管理层、三资企业管理层或职员等,具体正在统计中……

Honors and Awards 获奖
  1. 1. “井下采油工具动态检测技术及系统”,教育部科技进步一等奖,2003
  2. 2. “测控技术与仪器专业卓越人才培养创新体系建设”,第七届高等教育天津市级教学成果一等奖,2013
  3. 3. 天津大学毕业设计优秀指导教师,2002
  4. 4. 天津大学青年教师讲课大赛二等奖,2004
  5. 5. 致公党天津市委员会参政议政优秀个人,2004
  6. 6. 政协南开区参政议政先进个人,2013

Other social activities 其他社会活动
  1. 1.天津市南开区政协第十四届、第十五届政协委员
  2. 2.中国致公党天津市南开区副主委、中国致公党天津大学总支委员会副主委

Hobbies 个人爱好

体育活动、唱歌

科技链接

教学链接

校内链接

  • 国际交流